状態密度

計算により得られたＳｉＯ₄クラスターの状態密度（ＤＯＳ）をプロットした図です。実線がクラスターのトータルのＤＯＳを、波線、点線が部分状態密度を示しています。この図は、プロッター出力ファイルを変換した物です。

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